上光彼爱姆粒度分析专用软件PIAS

• 品牌：上光彼爱姆

概述

欢迎使用PIAS颗粒分析软件。PIAS颗粒分析系统是一工作在Windows操作系统下的24位真彩色通用颗粒检测与分析系统。PIAS采用先进的颗粒分析算法，能对各种颗粒进行处理、分析和检测，是颗粒检测与分析的有效工具。

一、PIAS能完成那些工作

PIAS提供的颗粒处理与分析功能，覆盖颗粒定量分析的几乎所有应用领域，包括材料、冶金、医药、生物、化工、摩擦学等各种需要利用颗粒手段进行统计学和形态学自动分析、测定的领域。凡是与颗粒形态学有关的各种检测与分析都可以利用PIAS来完成。例如组织细胞形态学分析，金属显微组织及晶粒度分析，油料中污染物含量分析，农业种子形态分析，各种微小异行零件几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等都可以利用PIAS来完成。利用PIAS提供的分析结果，可使企业质量控制更具科学依据，提高企业管理水平和对外形象，是企业从事科技新产品开发，产品质量监控的有效工具。PIAS亦可作为理论教学、实验分析和基础科学研究的有效工具。

二、PIAS的主要特点

符合GB15445，美国ASTM112 及ISO9276标准；

支持TWAIN接口标准扫描仪及数字相机，支持多种颗粒采集卡；

充分利用WINDOWS系统资源，全面支持WIN98，WINme/WIN2K/WINXP操作环境；

新的程序设计手段，全汉化图文界面，可泊位图形工具条，使用简洁、直观、方便、快捷，只需点击鼠标，便可完成分析；

提供在线中文帮助提示，无需专业培训，便可掌握使用方法；

提供多种功能强大的区域选取工具，可对任意形状的区域进行处理与分析；

可完成包括色度调整，颗粒变形，数学形态学处理，颗粒增强，颗粒匹配，纹理分析，特征识别等一百多种专业颗粒处理与分析功能；

支持24位真彩色颗粒采集、支持RGB、CMY、HSV、Lab、YUV等彩色模型的处理与分析；

分析数据的可视化处理使分析结果与颗粒之间构成直接映射关系，便于观察分析；

先进的颗粒自动识别、粘连颗粒自动切分功能，保证了复杂颗粒的准确分析；

自动分析处理步骤编辑功能，能够完成全自动分析过程的设置；

悔步、重复功能，使用户能够找到最佳处理路径；

几何参数测量功能，细长体、块状体、颗粒体、线状体等各种特征体的自动定量分析功能，分析参数达一万多项。

分析结果可存入数据库，进行统计分析，制作图表，打印报告，并可以照片质量输出颗粒。