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上光彼爱姆数码光切法显微镜9JS(停产)

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  • 品牌:上光彼爱姆

一、用途

9JS数码光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

 

二、技术规格

测量范围不平度平均高度值 (um)

表面光洁度级别

所需物镜

总放大倍数

物镜组件

工作距离 (mm)

视场 (mm)

>1.0~1.6

>1.6~6.3

>6.3~20

>20~80

9

8~7

6~5

4~3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

2.5

1、摄影装置放大倍数:约6X

2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm

3、不平宽度 :用测微目镜: 0.0007~2.5mm;用坐标工作台: 0.01~13mm

4、仪器重量: 约23kg

5、外形尺寸: 约180×290×470mm

6、数码相机系统 :数码相机、90度数码适配镜、转接器

 

三、仪器成套性:

序 号

名称

单位

数量

1

仪器本体

台

1

2

测微目镜

只

1

3

坐标工作台

件

1

4

V 型块

件

1

5

标准刻尺(连盒)

件

1

6

7 倍物镜

组

1

7

14 倍物镜

组

1

8

30 倍物镜

组

1

9

60 倍物镜

组

1

10

可调变压器220/4~6/5VA

只

1

11

2.1瓦6伏灯泡 (备用件)

只

3

12

数码相机

只

1

13

适配镜(MCL-S90)

只

1

14

转接器

套

1

15

产品使用说明书

份

1

16

产品合格证明

份

1

17

产品保修卡

份

1

 




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