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性能指标:
1、TEM点分辨率:0.23 nm;线分辨率0.10 nm;
2、STEM HAADF分辨率0.16 nm;
3、EDS 双能谱探头;
4、Gatan Oneview IS超快速CMOS相机。
功能及应用:
1、TEM模式: 形貌像、高分辨(HRTEM)、电子衍射(Diffraction)、明/暗场像(Bright/Dark Field Image);
2、HAADF-STEM模式: 明/暗场(Bright/Dark Field Image);
3、EDS 成分分析:点分析(Point analysis)、线分析(Line Scan)、面分析(Mapping);
4、热/电原位电镜样品杆;
5、液体、电化学原位样品杆;
6、三维透射电镜样品杆。
样品要求:
1、粉末样品、液体样品需要制备到适合样品的有机碳膜铜网上;常见碳膜铜网有:连续碳膜、超薄碳膜、不连续碳膜(也叫微栅);如果样品有磁性,请使用有碳膜的双联膜铜网。电镜测试时,只带载有样品的铜网。
2、固体块材样品需要减薄到TEM测试要求,需要根据样品选择合适的减薄方法。